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旭呈科技
XU CHAIN
晶圆 (wafer) 平坦度检测
SiC(碳化硅) X-RAY 检查机
ART 阻抗自动量测系统
各式精密探针开发
各式电性及光学检测
4~6 寸 晶圆平坦度检测设备
¥ 0.00
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8~12寸 晶圆平坦度检测设备
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面射型扫描平坦度量测
2023-06-25
SiC(碳化硅) X-RAY 检查机
2023-06-25
ART 阻抗自动量测系统
功能:
低阻抗量测
I/V Curve Analysis
Idd Measuring
Unpowered/Powered Leakage Test
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LED 基板点亮 AOI 检查
MiNi LED 测试
点灯 AOI
控制方式 PC base
¥ 0.00
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各式精密探针开发
薄膜探針 Probe Unit
Blade type Probe Unit
OLED Blade Type Contactor
OLED FPC Type Contactor
(采用半导体黄光制程,高精度)
(探针各种形状皆可客制,欢迎洽询)
¥ 0.00
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薄膜探針 Thin Film Probe Unit
1寸~85寸 Full Contact 电性检测
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刀片式探针 Blade Type Probe Unit
具体需求请电洽
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OLED Test Contactor
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Touch Panel O/S 测试系統
量测 Touch Panel Sensor 短、断路
及 cross point 电容值、Line to GND 电容值、Line to Line 相邻电容值
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Touch Panel Array 测试机
电阻,电容 Open / Short 检测,Array G3.5
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各式电子产业电性及光学检测设备
Micro LED / Mini LED / OLED / LCD / IC / Test Probe Station
Touch Panel Open / Short 测试系统 / Fingerprint Array Tester
¥ 0.00
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Finger Print Array 测试机
电阻,电容 Open / Short 检测,Array G3.5
¥ 0.00
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指纹辨识讯号测试机
尺寸: 0.8~8寸,Test Pitch: 17 um
¥ 0.00
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IC Test Probe Station
半导体探針台:6~12 寸
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MEMS Probe Card--IC Test
具体需求请电洽
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Sensor 电性测试机
尺寸: 5~27 寸,精度: 3um
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