晶圆（wafer）
平坦度检测技术及应用
SiC（碳化硅）
X - RAY 检查机
ART 阻抗
自动量测系统
MEMS 薄膜探针
技术及应用的先驱领导者
各式电子产业电性及光学检测设备开发及应用
我们的服务
Our service
