核心技术

  • ART 阻抗自动量测系统

     

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    功能：
    低阻抗量测
    I/V Curve Analysis
    Idd Measuring
    Unpowered/Powered Leakage Test

  • SiC(碳化硅) X-RAY 检查机

     

    检验项目：

    Micropipe

     

    具体需求，欢迎洽询

     

     

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    晶圆(wafer)平坦度检测设备

     

    检测项目包括：

    Thickness 量测

    TTV 量测

    Bow 量测

    Warp 量测

    粗糙度

     

    适用产业：

    IC WAFER

    IC 封测

    LED WAFER

    太阳能

    玻璃

  • 各式精密探针开发

     

     

    薄膜探針 Probe Unit

     

    Blade Type Probe Unit

     

    OLED Blade Type Contactor

     

    OLED FPC Type Contactor    

          

    （采用半导体黄光制程，高精度）

    （探针各种形状皆可客制，欢迎洽询）

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    各式电子产业

    电性及光学检测设备

     

    Micro LED / Mini LED / OLED / 

    LCD / IC / Test Probe Station /

    Touch Panel O/S 测试系统